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隨著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)走入芯片融合時(shí)代，工藝和應(yīng)用的復(fù)雜度不斷提升，想要生產(chǎn)出好的產(chǎn)品，“測(cè)試先行”尤為重要。測(cè)試設(shè)備主要用于半導(dǎo)體制造過(guò)程中檢測(cè)芯片性能與缺陷，幾乎每一道工藝完成后都要進(jìn)行，其中高精度溫度控制貫穿于整個(gè)測(cè)試環(huán)節(jié)的始末。

半導(dǎo)體行業(yè)需要控溫精準(zhǔn)高可靠高穩(wěn)定，宇電高性能儀表解決復(fù)雜串級(jí)控制問(wèn)題，可應(yīng)用在半導(dǎo)體行業(yè)的擴(kuò)散爐、氧化爐、退火爐、PECVD爐等設(shè)備，提升生產(chǎn)效率及產(chǎn)品良率。

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